Buscar

 

RI UFLA (Universidade Federal de Lavras) >
Revistas UFLA >
Ciência e Agrotecnologia >

Por favor, utilize esse identificador para citar este item ou usar como link: http://repositorio.ufla.br/jspui/handle/1/6097

Título: Condições de atmosfera controlada, temperatura e umidade relativa no armazenamento de maçãs 'Fuji'
Título Alternativo: Controlled atmosphere, temperature and relative humidity conditions on the storage of 'Fuji' apples
Autor(es): Brackmann, Auri
Giehl, Ricardo Fabiano Hettwer
Sestari, Ivan
Steffens, Cristiano André
Assunto: Malus domestica Borkh.
Degenerescência da polpa
Distúrbios fisiológicos
Flesh breakdown
Physiological disorders
Publicador: Editora da Universidade Federal de Lavras
Publicação: 1-Ago-2005
Referência: BRACKMANN, A. et al. Condições de atmosfera controlada, temperatura e umidade relativa no armazenamento de maçãs 'Fuji'. Ciência e Agrotecnologia, Lavras, v. 29, n. 4, p. 803-809, jul./ago. 2005.
Resumo: Conduziu-se este trabalho com o objetivo de avaliar o efeito da temperatura de armazenamento, níveis de umidade relativa do ar (UR) e pressões parciais de O2 sobre a qualidade de maçãs 'Fuji' conservadas em atmosfera controlada (AC). O delineamento experimental utilizado foi o inteiramente casualizado com quatro repetições, contendo 25 frutos cada uma. Os tratamentos avaliados foram: armazenamento a 0,5ºC sob AC com (1) 0,7 kPa de O2 e (2) 1,0 kPa de O2; armazenamento a 0,5ºC sob AC com (3) 0,7 kPa de O2; (4) 1,0 kPa de O2; (5) 1,0 kPa de O2 mais baixa UR na câmara; (6) 1,0 kPa de O2, após 2 dias de exposição a 20ºC e (7) 1,0 kPa de O2 após 1 mês de armazenamento refrigerado (AR). Em todos os tratamentos as pressões parciais de CO2 foram mantidas abaixo de 0,5 kPa. Os frutos foram expostos a uma UR de 96%, exceto no tratamento com baixa UR, em que os níveis permaneceram próximos a 90%. De modo geral, as condições de armazenamento avaliadas neste trabalho não proporcionaram diferenças significativas na qualidade de maçãs 'Fuji', após oito meses de armazenamento e exposição a 20ºC durante sete dias. No entanto, o atraso no resfriamento, por meio da exposição dos frutos a 20ºC por dois dias antes do armazenamento a 0,5ºC sob AC com 1,0 kPa de O2, e o retardamento na instalação das condições de AC (1,0 kPa de O2 a 0,5ºC) em um mês, apresentaram bons resultados no controle das podridões após sete dias a 20ºC, especialmente quando comparados com o armazenamento a 0,5ºC sob AC com 0,7 e 1,0 kPa de O2 +<0,5 kPa de CO2.
Abstract: This experiment was carried out with the objective to evaluate the effect of temperature, relative humidity (RH) levels and O2 partial pressures on the quality of 'Fuji' apples stored on controlled atmosphere (CA). The experimental design was entirely randomized with four replications of 25 fruits. Evaluated treatments were: storage at 0.5ºC under CA with (1) 0.7kPa O2 and (2) 1.0kPa O2; storage at 0.5ºC under CA with (3) 0.7kPa O2; (4) 1.0kPa O2; (5) 1.0kPa O2 plus low RH 90%; (6) 1.0kPa O­2 after 2 days at 20ºC (delayed storage) and (7) 1.0kPa O­2 after 1 month of cold storage. Partial pressures CO2 were maintained lower than 0.5kPa in all treatments. In general, storage conditions evaluated in this work did not allow significative differences on quality maintenance of 'Fuji' apples after 8 months of storage plus 7 days of shelf-life. However delayed storage, through the placing of fruits at 20ºC during 2 days before transfer to CA with 1.0kPa O2 +<0.5kPa CO2 at -0.5ºC, and cold storage of fruits during 1 month before CA storage, exhibited good results on rot control after 7 days of shelf-life at 20ºC, especially when compared with storage at 0.5ºC under CA with 0.7 and 1.0kPa O2 +<0.5kPa CO2.
Outras Identificações: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1413-70542005000400012
Idioma: pt
Aparece nas coleções: Ciência e Agrotecnologia

Arquivos neste Item:

Não há arquivos associados para este Item.

Itens protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, Salvo indicação em contrário.


Mostrar estatísticas

 


DSpace Software Copyright © 2002-2007 MIT and Hewlett-Packard - Feedback